ABSTRAK
Kecacatan suatu permukaaan bahan optis yang bersifat makro atau mikro sangat sulit ditemukan secara langsung tanpa adanya sistem pendeteksian secara khusus. Dalam Al-Qur’an surat Yunus ayat 61, menjelaskan penciptaan alam semesta tidak ada yang menyerupai, lebih kecil atau lebih besar dari apa yang diciptakan-Nya dan tidak pula ada kekurangan ataupun kecacatan. Hal ini membuktikan bahwa secanggih apapun alat yang dibuat oleh manusia tidak ada kesulitan untuk selalu memperbaruinya, begitu juga kecacatan permukaan suatu lapisan, sekecil apapun kecacatan akan dapat diteliti dan dideteksi. Penelitian ini dilakukan dengan tujuan membuat alat pendeteksi kecacatan dengan memanfaatkan sistem optik pick-up compact disk dan menentukan tingkat akurasi alat.
Alat ukur ini terdiri dari 2 sistem, yaitu sistem optik dan sistem elektronik. Sistem optik terdiri dari laser sebagai sumber cahaya, beam splitter (dengan ukuran 50:50), motor DC sebagai penggerak sampel, serta photodioda sebagai sensor cahaya. Sedangkan sistem elektronik meliputi, ADC0809, MCU AT89S51, serta LCD sebagai display penampil. Sampel yang digunakan sebanyak 10 sampel dengan nilai kecacatan permukaan antara 0–10mm Pembuatan sampel dilakukan dengan membuat beberapa nilai kecacatan secara manual.
Prinsip kerja alat adalah cahaya dari laser akan melewati beam splitter, sebagian cahaya akan dipantulkan oleh cermin datar, sebagian ditransmisikan ke photodioda oleh obyek melalui beam splitter. Perpaduan 2gelombang cahaya tersebut akan diteruskan kephotodioda. kemudian direspon ADC dan diproses oleh MCU-S51, hasilnya ditampilkan melalui LCD. Pengambilan data pada sistem elektronik dilakukan dengan memberikan tegangan variabel pada sistem dan diamati tegangan keluarannya. Sedangkan pengambilan data untuk sistem keseluruhan dilakukan pengukuran dengan mencacati sampel secara manual kemudian diukur dengan alat pengukur nilai kecacatan dengan alat yang dibuat. Analisis data untuk sistem elektronik dilakukan dengan mencari prosentase penyimpangan rata-rata pada data hasil pengujian. Untuk analisis data pada sistem keseluruhan dilakukan dengan mencari prosentase kesalahan relatif (KR) rata-rata pada data hasil pengujian. Data hasil pengujian pada sistem elektronik menunjukkan prosentase penyimpangannya sebesar 3,8%. Sedangkan hasil pengujian sistem keseluruhan sebesar 13,19% untuk permukaan mengkilap dan 7,12% untuk permukaan yang tidak mengkilap.
